XRF（Magix 601）—X荧光光谱仪

功能介绍：用于对固体、粉末、颗粒和其它不规则形状的样品进行元素分析。测定样品的组成元素以及其各元素、组分的含量。每个样品的全元素定性分析只需12分钟，检测限最高可达ppb级，分析精度可达百分之零点几。带标样的样品可利用仪器的定量分析软件SuperQ进行定量分析，对大多数无标样的催化剂和其它无机材料样品，可利用仪器的IQ+无标样半定量分析软件定量分析。

测试方法：对于粉末和颗粒样品，一般需事先研磨、压片成外径为27mm、厚度约2-3mm的片状样品。粘结性欠佳的样品，压片时需掺入定量的硼酸。样品量过少时可用硼酸做基底进行压片。对于固体样品，若样品均匀、待测表面平整光滑，且外型尺寸大于27mm小于51mm，则可直接测量；否则需事先加工成型，或粉碎研磨后压成片，再进行测量。

XRD — X射线粉末衍射仪

功能介绍：可对包括金属、矿物、塑料、药物、催化剂、纳米材料等多种材料实施晶体结构和相分析。常用于对催化剂、分子筛样品的物相鉴别，物相定量，结晶度测定，晶格点阵参数的测定。配备变温样品池和高压原位样品池后，此设备还可以进行变温（高温）、原位衍射分析。
      该衍射仪最小测量角度为0 .5度，最大光管功率2.2 kW, 入射光路和衍射光路采用预校准模块，配有多种固定狭缝。带有超能探测器，扫描速度很快，在常规的X射线功率下，数分钟即可完成大角度范围的扫谱测量。配备的自动进样器，可对批量样品实施快速测定。

测试方法：该仪器样品测试操作简单，多采用平面样品台。样品颗粒度要求在200目左右，测试时，取少量（几毫克）粉末样品装入平板玻璃样品槽，压实刮平后，即可将样品槽放置到平面样品台进行测试扫谱；扫谱完成后，利用开数据检索和处理软件进行分析和处理。

GC-MS（GC6890-MS5973N）—气相色谱质谱联用仪

功能介绍：用于气、液有机样品的定性、定量和结构分析。可得到样品的色谱图、质谱图、定性定量结果以及组分结构信息。可检测最大质量数为800 amu。

测试方法：用注射器进行手动注射进样，液体样品进样量以1μL为宜，气体样品可以为10-100μL。可选用内径小于0.32μm的多种毛细管色谱柱。进样条件可选择：恒压分流、恒压不分流、脉冲升压分流、脉冲升压不分流。分离条件可设定程序升温、程序升压、恒压模式、恒流模式。色谱柱出口接质谱，可得到总离子流浓度谱图，利用数据处理软件和NIST 98谱库，可方便快捷地实现质谱解析。色谱柱出口接色谱FID检测器，可得到色谱图，进行色谱解析。

AutoChem 2910——化学吸附分析仪

功能介绍：用于对催化剂进行TPD、TPR、TPO、BET测定、脉冲化学吸附(PCA)、程序升温反应(TPRA)这些实验，以此考察催化剂的表面酸性、活性点数量、活性点强度、金属分散度、活性金属比表面积等重要特征以及其它化学特性。

测试方法：先在U型样品管中用石英棉做好样品床，装入适量样品到样品床上，然后在仪器工作站软件中编制好实验程序。启动实验程序后，分析自动进行。分析结束后，用数据处理软件对检测到的信号曲线进行处理，可得到有关的分析结果和数据。也可同时启动在线质谱仪，对反应产物进行质谱解析。

ASAP 2010——比表面与孔分布测定仪

功能介绍：可测定微孔以上材料的比表面积、孔径、孔分布、总孔体积等物理特征。可测孔径范围为3.5埃-5000埃，比表面积为0.0001立方米/克至无限。

测试方法：待测样品事先在制备站经加温和真空脱附进行预处理，预处理前后用天平精确称重，得到纯净样品重量。样品完成预处理后，安装到分析站。然后在仪器工作站软件中编制好分析方法，其中主要涉及选择测定方法，设定吸附压力点。启动分析方法后，分析自动进行。分析完成后，即可得出分析数据和曲线，可根据需要打印有关报告。

Online MS（OmniStar 300 ）—小型在线质谱仪

功能介绍：可用于在线实时检测反应产物，或进行气体样品的质谱分析。本实验室用作AutoChem2910和TGA的逸出气在线分析或表面反应评价系统的质谱检测器。

分析方法：将质谱仪探头（带加热护套的一米长的金属软管）接到待测产物逸出口，启动质谱工作站后就可进行质谱分析。

NOWA4000——高速多分析站比表面与孔分布测定仪

功能介绍：用于测定材料的比表面积、孔径、孔分布、总孔体积等物理特性。可同时测定4个样品，单点BET测定时间〈 8分钟。可测孔径范围为3.5-2000埃，比表面积为0.01-2000m2/g（N2），可测最小孔体积2.2×10-6 cc/g。

测试方法：待测样品事先在制备站经加温和真空脱附进行预处理，预处理前后用天平精确称重，得到纯净样品重量。样品完成预处理后，安装到分析站。然后在仪器工作站软件中编制好分析方法，其中主要涉及选择测定方法，设定吸附压力点。启动分析方法后，分析自动进行。分析完成后，即可得出分析数据和曲线，可根据需要打印有关报告。

FTIS（EQUINOX 55）——傅立叶变换红外光谱仪

功能介绍： 用于测定固、气、液态样品以及原位反应过程的红外光谱，并据此实现对样品的化合物成分鉴定、化合物结构分析，以及样品化学反应动力学分析。仪器光谱范围是 7500-370cm -1 ，分辨率优于 0.5 cm -1 ，原位分析时，在 16 cm -1 分辨率下快速采样可达 80 张谱 / 秒。仪器配备了高温（ 900 ℃ ）、高压（ 1500 psi ）漫反射附件和高温（ 800 ℃ ）、高压（ 10 -4 - 66 bar ）透射反应系统，可以实现原位分析。

测试方法： 常规分析时，对固体样品可压片装样或将粉末样品直接装入漫反射附件进行分析，液体样品装入液体样品池进行分析，气体样品装入气体样品池进行分析。装入样品后，在仪器工作站软件中选择好分析条件，一旦启动分析，很快就得到样品的红外光谱图，然后，利用软件的谱图处理功能对谱图进行编辑、整理和一系列分析操作。原位分析时，将样品装入原位池后，在原位分析辅助装置上设定好反应条件，然后开始分析。

红外光谱石英吸附系统

功能介绍： 用于实现原位分析和研究催化剂对吡啶、氨气等吸附剂的吸附、脱附过程。标准真空度：5×10-5 mbar、达到标准真空度所需时间：30 分钟-1小时，红外池最高工作温度小于500℃ 。

TGA—DTA — 热重差热分析仪

功能介绍： 用于测定样品的热重/差热或差示量热扫描（DSC）曲线，并据此获取材料在加热升温过程中的物理（晶型、相态、吸热）变化和化学（脱水、分解、氧化/还原）变化的信息，以了解材料的热力学和动力学特性。加热炉温度最高为1500℃，工作气氛为氮气或氧气。配合线质谱仪检测仪可实现逸出气的定性分析。

测试方法： 热重分析时，将样品装入热天平样品盘，然后在软件中编制分析方法（主要涉及设定程序升温条件和气氛条件）。启动分析方法后，分析自动进行，并可实时显示热重曲线；分析结束后，可利用软件进行数据处理，并可根据需要打印输出有关报告。差热分析过程和方法与热重分析类似，其差别是需在两个样品杯中分别装填待测样和参比样。